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prh-ZG3  Industrieversion (IP65) mit Pilztaster
Zufallsgenerator
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Batterieversorgung


   Hardware - Entwicklung von Industrie - Elektronik mit den Microcontrollern (µC) :

   89C2051 - P89LPC9xx - C8051F34A - SAF-C517A


  -> siehe auch allgemeines zu den Industriesteuerungen
   Kundenaufträge :
  • diverse intelligente Steuerungen für freitragende Schiebetore, Drehflügeltore, Drehkreuze,  Drehsperren e.t.c. Die jeweiligen Antriebe arbeiten mit Wechselstrom 230Volt~ bzw. Drehstrom  400Volt~ oder auch mit 24Volt= Gleichstrom.
  • Dateninterfaces für Satelliten

   Eigenentwicklungen :

  • prh-ZG1 Zufallsgenerator zur Durchgangskontrolle (Klemmengehäuse für Hutschiene)
  • prh22 Netzteil (22V / 0,5A) zur Versorgung von prh-ZG1
  • prh-ZG2 Zufallsgenerator zur Personenkontrolle (Tischgehäuse mit Taster und Netzteil)
  • prh-ZG3 Zufallsgenerator (Industrieversion (IP65) mit Pilztaster)
  • prh-ZG4 Zufallsgenerator (Industrieversion (IP65) mit LED-Piktogramm)
  • prh-ZG5 Zufallsgenerator (ortsunabhängig durch Batterieversorgung )
  • prh312 Wärmeprüfecke
  • prh-40 Leuchtdiodenfeld mit 40 Multicolor-Dioden
  • prh-41 Piktogramm Leitanzeige mit 48 ultrahellen Leuchtdioden
  • PSD93 Distanzsensor mit einstellbaren Schwellwerten

   Software - Entwicklung :

  • Firmware für die oben aufgeführten Microcontroller

   Spezialkenntnisse :

  • Entwicklung von elektronischen Geräten zur Oberflächenanalyse bzw. Darstellung der Verteilung der Elemente von ins Vakuum eingeschleusten Proben mit z.B. den Verfahren XPS, SIMS.
    Ein Geräte-Beispiel : Ionenquellen - Rastergenerator.
  • Sonderverkauf:  ca. 600 Stück Infineon Microcontroller SAF C517A (PLCC84)
    Preis bitte anfragen - Mindestabnahme = 15 Stck. = 1 Stange
H L U B E K - electronic
Ing.-Büro Dipl.Ing. Paul R. Hlubek
Ingenieurbüro s e i t 1 9 8 4
Inhaltlich Verantwortlicher gemäß
§ 6 MDStV :
Paul R. Hlubek
Mittelstr. 14
56307 Dürrholz-Muscheid
Tel. 02684 - 6205
Fax  02684 - 6291
Email: prh@hlubek.de
Ust.Id. / VAT-ID : DE 149 461 045

Verkauf nur an gewerbliche Abnehmer


89C2051 : (Microcontroller with 8051-core, Flash-EPROM, in DIL20-housing, made by ATMEL)
8-bit Microcontroller mit 2 kByte Flash-Eprom , 8051-kompatibel, max. Takt = 24 MHz, zwei 16-Bit Timer/Counter, RS232-Schnittstelle, 15 I/O-Pins, DIL20-Gehäuse, Fa. ATMEL.
P89LPC9xx : (Microcontroller with two-clock 80C51 core, Flash-EPROM, 8 - 28 pins, made by Philips (NXP))
moderner 8-bit Microcontroller mit bis zu 16 kByte Flash-Eprom, 8051-kompatibel, Takt 20kHz...18MHz (2-Takt Kern), zwei 16-bit Timer, RS232 / I²C (400kHz) / SPI-Schnittstellen, ADC, DAC, PWM, bis zu 26 I/O-Pins, diverse Gehäuseformen, 3V-Technik, Fa. Philips
C8051F34A :
(Microcontroller with high speed 8051-core, LQFP32),
8-bit Mikrokontroller, 8051-kompatibel, intern (VCO) 48MHz / 48MIPS, native usb2.0 full speed,
10-Bit ADC 200ksps, int.Vref, int. Temp.-Sensor,
SPI, SMBus, 2xUART, PCA/WDT, 4Timer,
onChip: 64kB ISP-Flash, 4352B RAM, debugging.
Fa. SiLabs

SAF-C517A : (Microcontroller with 8051-core in PLCC84-housing) 8-bit Microcontroller, 8051-kompatibel, 18MHz, vier 16-bit Timer/Counter, 256Byte + 2kByte RAM on-chip, MUL/DIV-Coprozessor, 12x10-bit A/D-Wandler, 21 PWM-Ausgänge, zwei RS232-Schnittstellen, 56 I/O-Pins, 12 Inputs, PLCC84-Gehäuse, Fa. SIEMENS (Infineon), nicht für Neuentwicklungen geeignet.

XPS : (X-ray Photoelectron Spectroscopie) Oberflächenanalyseverfahren mit Röntgenstrahlen-Anregung (X-ray Photoelectron Spectroscopie) im Vakuum. Die Energien (=Geschwindigkeiten) der emmitierten Photo-Elektronen werden im eigentlichen Analysator (z.B ein Halbkugel - Kondensator in der Elektronenflugbahn) ermittelt und kennzeichnen die zugehörigen Elemente. Ein Durchstimmen des Kondensators führt dann zum Spektrum der nachgewiesenen Elemente auf der stimulierten Probe. Die Anzahl der Elektronen gleicher Energie pro Zeit verrät die Konzentration des zugehörigen Elementes auf der so zerstörungs- frei analysierten Probenoberfläche. Darüber hinaus erhält man auch Informationen zu den chemischen Bindungsverhältnissen auf der Probe.

SIMS : ( Secondary Ion Mass Spectrometry) Festkörper- und Oberflächenanalyse mit Ionenbeschuß im Vakuum, um Sekundärionen auszulösen (Secondary Ion Mass Spectrometry). Der eigentliche Analysator ist ein Massenseparator (z.B. ein Quadrupol) und ermöglicht dann die Darstellung eines Massenspektrums (incl. Isotope). Da der Ionenbeschuß mit hoher Energie die Probe etwas abträgt, kann man so z.B. nach und nach ein Tiefenprofil der Massenkonzentrationen in der Probe aufzeichnen. Eine verfeinerte Methode (Sekundärneutralteilchen-Massenspektrometrie = SNMS) benutzt die Nachionisierung der Neutral- teilchen mittels eines speziellen Elektronengasplasmas ((Elektronenzyklotron - Wellenresonanz = ECWR)-Argonplasma). Das Vorspannen der Probe mit Wechselspannung (anstatt DC) ermöglicht jetzt auch Analysen an beschichteten, elektrisch nicht-leitenden Materialien (z.B.: Glas, Keramik).